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  • FilmSense 橢偏儀
    FilmSense 橢偏儀

    FilmSense 橢偏儀 FS-1 可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征.

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  • 美國FSM高溫薄膜應力及翹曲度測量儀
    美國FSM高溫薄膜應力及翹曲度測量儀

    美國FSM高溫薄膜應力及翹曲度測量儀:美國FSM成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導體行業等高新行業提供各式精密的測量設備。

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  • FSM413紅外激光測厚儀
    FSM413紅外激光測厚儀

    FSM413紅外激光測厚儀主要產品包括:光學測量設備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及 漏電流測量設備、金屬污染分析...

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  • StrainScope Flex可調式實時應力儀
    StrainScope Flex可調式實時應力儀

    StrainScope Flex可調式實時應力儀 產品具有測量速度快、精度高、重復性好等特點,對大尺寸樣品可拼接測量。其應力測量設備用戶遍及*,用戶包括肖特、卡爾-蔡司、JENOPTIK、Saint-...

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  • 實時型StrainScope S3/S4 應力儀
    實時型StrainScope S3/S4 應力儀

    實時型StrainScope S3/S4 應力儀 產品具有測量速度快、精度高、重復性好等特點,對大尺寸樣品可拼接測量。其應力測量設備用戶遍及*,用戶包括肖特、卡爾-蔡司、JENOPTIK、Saint-...

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  • 拼接型StrainMatic stepper應力儀
    拼接型StrainMatic stepper應力儀

    拼接型StrainMatic stepper應力儀 產品具有測量速度快、精度高、重復性好等特點,對大尺寸樣品可拼接測量。其應力測量設備用戶遍及*,用戶包括肖特、卡爾-蔡司、JENOPTIK、Saint...

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  • 高精度型StrainMatic M4應力儀
    高精度型StrainMatic M4應力儀

    高精度型StrainMatic M4應力儀 德國ilis公司成立于1998年,專業研發制造高精度應力雙折射分析軟件與測量設備,采用成像式光彈原理,直接測量光延遲,可以快速給出高分辨率的高精度測量結果。

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  • FSM413 紅外干涉厚度測量設備
    FSM413 紅外干涉厚度測量設備

    FSM413 紅外干涉厚度測量設備 主要產品包括:光學測量設備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及 漏電流測量設備、金...

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  • Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀
    Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀

    Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度,可測大厚度達3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均

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  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀

    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

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  • Filmetrics F60薄膜厚度測量儀
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    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點,并在幾秒鐘內提供厚度測量。 選擇數十種預定義的極坐標,矩形或線性地圖模式中的一種,或創建自己的地圖模式,不限...

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  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀

    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米

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  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀
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    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米

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  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀

    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜,不到一秒鐘的時間,陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。

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  • F2-RT 光譜反射和透射測量系統
    F2-RT 光譜反射和透射測量系統

    F2-RT 光譜反射和透射測量系統 是美國Filmetrics新推出的物超所值同時測量反射率和透射率的儀器。

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  • Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀
    Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

    Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標光譜與多條反射光譜比較 – 自動評估反射率,*小/*大位置,并得出明確的讀數結論。大 大的減少了人為造成的讀數和計算誤差。

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    橢圓偏振儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由于并不與樣品接觸,對樣品沒有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種具吸引力的測量設備?;驹恚簷E圓偏光法涉及橢圓偏振光在材料表面的反射。為表征反射光的特性,可分成兩個...
  • 關于納米壓印機可支持壓印工藝,這里有詳細介紹2021-07-26

    納米壓印技術是上世紀90年代StephenYChou,針對傳統光刻受波長限制提出的類似于模板刻印的一種技術。納米壓印機是一種非常靈活的壓印設備。它可提供加熱型納米壓印、UV紫外納米壓印以及真空納米壓印。模塊化系統可根據特定需求輕松配置,體積...
  • 想選擇適合自己的紅外激光測厚儀,可以從這四點出發2021-06-26

    紅外激光測厚儀集激光光源,光電檢測和計算機工業控制技術三者于一身,可廣泛用于生產線上對各種材料的厚度、寬度、輪廓的實時測量,是我國工業生產線產品質量控制的重要設備。作為一種非接觸式厚度測量儀器,一直受到人們的熱捧。因為它的測量非接觸式,讀數...
  • 細說光學膜厚儀的應用、優點以及使用注意事項2021-05-26

    光學膜厚儀是一種非接觸式測量儀器,一般會運用在生產廠商大量生產產品的過程,由于誤差經常會導致產品全部報廢,這時候就需要運用光學膜厚儀來介入到生產環境,避免這種情況的發生。典型應用領域:半導體制造業,光刻膠、氧化物、硅或其他半導體膜層的厚度測...
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岱美有限公司(DymekCompanyLtd,下面簡稱岱美)成立于1989年,是一間擁有多年經驗的性高科技設備分銷商,主要為數據存儲、半導體、光通訊、高校及研發中心提供各類測量設備、工序設備以及相應的技術支持,并與一些重要的客戶建立了長期合作的關系。自1989年創立至今,岱美的產品以及各類服務、解決方案廣泛地運用于香港,中國臺灣,中國大陸,泰國,菲律賓,馬來西亞及新加坡等地區。岱美在中國大陸地區主要銷售或提供技術支持的產品:晶圓鍵合機、納米壓印設備、紫外光刻機、涂膠顯影機、硅片清洗機、超薄晶圓處理設備、光學三維輪廓儀、硅穿孔TSV量測、非接觸式光學三坐標測量儀、薄膜厚度檢測儀、主動及被動式防震臺系統、應力檢測儀、電容式位移傳感器等。岱美重要合作伙伴包括有:n&kTechnology;Veecodi,Wyko,Dektak,IBE,IBD,MTI;Imago;4D;FirstNano;Gat...

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