輪廓儀是測量各種機械零件素線形狀和截面輪廓形狀的精密設備，具有高頻率、高精度，可以對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進行精確和快速測量與檢驗的儀器，并且環境適應性強。輪廓儀的使用說明：準備工作：1.測量前準備。2.開啟電腦、打開機器電源開關、檢查機器啟動是否正常。3.擦凈工件被測表面。測量：1.將測針正確、平穩、可靠地移動在工件被測表面上。2.工件固定確認工件不會出現松動或者其它因素導致測針與工件相撞的情況出現。3.在儀器上設置所需的測量條件。4.開始測量。測量過程中不可觸摸工...

橢偏儀通過測量光在介質表面反射前后偏振態變化，獲得材料的光學常數和結構信息，具有測量精度高、非接觸、無破壞且不需要真空等優點。橢偏儀的選購指南：1、根據研究或測試的材料特性來確定光譜范圍，進一步選擇適合光源的橢偏儀。對于透明材料，考慮關心的折射率光譜區域;對于短波吸收、長波透明材料，如果關心吸收區域折射率及膜厚可擴展到紅外透明區域來先確定薄膜厚度，然后求解折射率。2、入射角方式選擇。橢偏儀多角度測量可以增加可靠性，但不是總有必要。多角度Z適用于以下幾種場合：多層膜結構、吸收膜...

橢偏儀/橢圓偏振儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量儀器?，F在已被廣泛應用于材料、物理、化學、生物、醫藥等領域的研究、開發和制造過程中?；驹恚簷E偏儀利用偏振光測量薄膜或界面參量，通過測量被測樣品反射(或透射)光線偏振狀態的變化來獲得樣品參量。橢偏法測量具有如下特點：1.能測量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2個數量級。2.是一種無損測量，不必特別制備樣品，也不損壞樣品，比其它精密方法：如稱重法、定量化學分析法簡便。3.可同時測量膜的厚度...

光學輪廓儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，它是以白光干涉技術為原理，光源發出的光經過擴束準直后經分光棱鏡后分成兩束，一束經被測表面反射回來，另外一束光經參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發生干涉，顯微鏡將被測表面的形貌特征轉化為干涉條紋信號，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌。Filmetrics3D光學輪廓儀具有3倍於于其成本儀器的次納米級垂直分辨率,Profilm3D同樣使用了現今高分辨率之光學輪廓儀的測量技術包含垂直掃描干涉（VSI）及相移干涉（PSI...

硅片電阻率測試模組是一款測量圓柱晶體硅電阻率測試儀器，可測量硅芯，檢磷棒，檢硼棒，籽晶等，由于儀器大大消除了珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等負效應的影響，因此測試精度大大提高，量程實現了電阻率從10-4歐姆.厘米到10+4歐姆.厘米（可擴展）的測試范圍。因此儀器具有測量精度高、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點。是西門子法、硅烷法等工藝生產原生多晶硅料的企業、物理提純生產多晶硅料生產企業、光伏及半導體材料廠、器件廠、科研部門、高等院校以及需要超大量程測試電阻...